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  • 菲希尔fischer X射线镀层膜厚仪,XDLM 237套装
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菲希尔fischer X射线镀层膜厚仪,XDLM 237套装

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品 牌 名 称:菲希尔 Fischer 品 牌 型 号:XDLM 237套装 库 存 件 数:100 扳          手:
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  • 产品详情
  • 参数介绍
     X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用手动或自动方式,测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。
    FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM237是一款应用广泛的能量色散型x射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量分析极薄镀层和超小含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的最合适的测量仪器。
    为每次测量创造理想的激发条件,仪器配备可电动调整的多个准直器和基本滤片。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。
    FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM237系统有着出色的精确性和良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器,节省时间和精力。
    由于采用了基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。
    设计理念:
    FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237设计为界面友好的台式测量仪器系列,配备了马达驱动的X/Y工作台,当保护门开启时,工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程Z轴升降系统。
    高分辨率的彩色视频摄像头可方便精确定位测量位置。配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。
    测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。
    带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的精确调整。
    所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM软件在电脑上完成。
    XDLM237型镀层测厚及材料分析仪完全满足DIN ISO 3497标准和ASTM B 568标准,型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规规定。 
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